name: Анализ нанокремния и ионно-синтезированных оксидных наноструктур вольфрама методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
keyword_list: ОКСИДНЫЕ НАНОСТРУКТУРЫ ОКСИДЫ ВОЛЬФРАМА ОКСИДЫ КРЕМНИЯ НАНОМАТЕРИАЛЫ НАНОКРЕМНИЙ РЕНТГЕНОВСКАЯ ФОТОЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ РФЭС
abstract: Предложена методика экспериментального рентгеновского фотоэлектронного определения состава нанокремния и композитных структур на его основе и методика синтеза и анализа in situ в высоком вакууме оксидных наноплёнок вольфрама. Разработан процесс пробоподготовки анализируемого вещества, условия проведения измерения спектров РФЭС наночастиц кремния, включая влияние используемой подложки на результаты анализа.  Приведена методика очистки поверхности анализируемых образцов ионной бомбардировкой (Ar+). Разработан метод обработки полученных спектров при деконволюции пиков экспериментальных кривых интенсивности аналитического сигнала РФЭС. Представлена новая методика деконволюции аналитического сигнала РФЭС и извлечения фоновой линии, позволяющая существенно улучшить метрологические характеристики метода для исследования наноструктур и наноматериалов. Установлено, что фотолюминесцентные свойства и спектр фотолюминесценции гибридных наночастиц кремния, определяются не только размером частиц (квантово-размерный эффект), но и соотношением различных валентных состояний кремния, присутствующих в составе оболочки наночастицы, а также кислород-дефицитных парамагнитных центров. Проведено исследование сверхбыстрой спектрально-временной динамики наведённого поглощения при широкополосном фемтосекундном зондировании, которое позволило проследить динамику релаксации возбужденных носителей в двух формах кремниевых наночастиц, полученных при высокотемпературном отжиге SiO – недейтерированных и полностью дейтерированных, имеющих одинаковое кристаллическое ядро размером 4,5 нм.  Определён состав оксидных наноструктур вольфрама, полученных ионным облучением поверхности металлической фольги W, на основе слоистой модели.Определены зависимости концентраций оксидов вольфрама от дозы облучения ионами O2+ с энергией 3 кэВ. Вычислены толщины оксидных слоев, средняя степень окисления вольфрама и стехиометрия в окисленном слое и на всей анализируемой толщине образца. Показано, что количество оксидов и толщина соответствующих слоев монотонно увеличивались при увеличении дозы облучения.
chairman_dissertation_council.name: Виталий
chairman_dissertation_council.surname: Флид
chairman_dissertation_council.patronymic: Рафаилович
chairman_dissertation_council.position: заведующий кафедрой
chairman_dissertation_council.degree: Доктор химических наук
chairman_dissertation_council.rank: Профессор
chairman_dissertation_council.wos_research_id: H-1781-2017
chairman_dissertation_council.scopus_author_id: 6602997346
chairman_dissertation_council.rinc_id: 46494
chairman_dissertation_council.territory: РОССИЯ
organization_supervisor.name: Николай
organization_supervisor.surname: Прокопов
organization_supervisor.patronymic: Иванович
organization_supervisor.position: Первый проректор
organization_supervisor.territory: РОССИЯ
rubrics.code: 81.09.30
rubrics.name: Наноматериалы
rubrics.code: 31.19.03
rubrics.name: Теоретические вопросы аналитической химии
oecds.code: 01.04.EA
oecds.name: CHEMISTRY, ANALYTICAL
speciality_codes.name: Аналитическая химия
speciality_codes.code: 02.00.02
supervisors.fio: Ищенко А.А.
supervisors.scientific_degree: Доктор химических наук
supervisors.speciality_code: Физическая химия
supervisors.responsible_type: Научный руководитель
opponents.fio: Фетисов Г.В.
opponents.scientific_degree: Доктор физико-математических наук
opponents.speciality_code: Физическая химия
opponents.responsible_type: Оппонент
opponents.fio: Штыков С.Н.
opponents.scientific_degree: Доктор химических наук
opponents.speciality_code: Аналитическая химия
opponents.responsible_type: Оппонент
protection_organization.short_name: РТУ МИРЭА
protection_organization.name: ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МИРЭА - РОССИЙСКИЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ"
protection_organization.ogrn: 1037739552740
protection_organization.supervisor_name: СТАНИСЛАВ
protection_organization.supervisor_surname: КУДЖ
protection_organization.supervisor_patronymic: АЛЕКСЕЕВИЧ
protection_organization.organization_type: Организация
protection_organization.okogu: Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
protection_organization.okopf: Федеральные государственные бюджетные учреждения
author_organization.short_name: РТУ МИРЭА
author_organization.name: ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ОБРАЗОВАНИЯ "МИРЭА - РОССИЙСКИЙ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ"
author_organization.ogrn: 1037739552740
author_organization.supervisor_name: СТАНИСЛАВ
author_organization.supervisor_surname: КУДЖ
author_organization.supervisor_patronymic: АЛЕКСЕЕВИЧ
author_organization.organization_type: Организация
author_organization.okogu: Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
author_organization.okopf: Федеральные государственные бюджетные учреждения