name: Метод и средство измерений геометрических параметров формы выпуклых сферических и асферических поверхностей
keyword_list: ИНТЕРФЕРОМЕТРИЯ ВЫПУКЛАЯ ОПТИЧЕСКАЯ ПОВЕРХНОСТЬ
abstract: В работе предлагается решение важной задачи, которая заключается в разработке средства измерений параметров отклонений формы выпуклых поверхностей размером до 250 мм, реализующего интерференционный метод измерений, обеспечивающий определение отклонения формы через характеристики интерференционной картины. Создано универсальное интерференционное средство измерений параметров отклонений формы выпуклых оптических поверхностей, реализующее схему с ортогональным ходом лучей, отличающееся отсутствием дополнительных элементов, формирующих сферический или асферический волновой фронт. В интерференционной установке с ортогональным ходом лучей получен способ компенсации составляющей погрешности измерений, связанной с деформацией опорного волнового фронта.
chairman_dissertation_council.name: Владимир
chairman_dissertation_council.surname: Крутиков
chairman_dissertation_council.patronymic: Николаевич
chairman_dissertation_council.position: Главный научный сотрудник
chairman_dissertation_council.degree: Доктор технических наук
chairman_dissertation_council.rank: Отсутствует
chairman_dissertation_council.wos_research_id: K-5375-2015
chairman_dissertation_council.scopus_author_id: 7005345027
chairman_dissertation_council.rinc_id: 737793
chairman_dissertation_council.territory: РОССИЯ
organization_supervisor.name: Андрей
organization_supervisor.surname: Батурин
organization_supervisor.patronymic: Сергеевич
organization_supervisor.position: директор
organization_supervisor.territory: РОССИЯ
rubrics.code: 90.27.27
rubrics.name: Измерения геометрических величин
rubrics.code: 29.31.29
rubrics.name: Формирование оптического изображения. Оптические приборы и оптические методы измерений
oecds.code: 02.03.IU
oecds.name: ENGINEERING, MECHANICAL
speciality_codes.name: Метрология и метрологическое обеспечение
speciality_codes.code: 05.11.15
supervisors.fio: Лысенко В.Г.
supervisors.scientific_degree: Доктор технических наук
supervisors.speciality_code: Метрология и метрологическое обеспечение
supervisors.responsible_type: Научный руководитель
opponents.fio: Анцыферов С.С.
opponents.scientific_degree: Доктор технических наук
opponents.speciality_code: Системный анализ, управление и обработка информации (по отраслям)
opponents.responsible_type: Оппонент
opponents.fio: Дружин В.В.
opponents.scientific_degree: Кандидат технических наук
opponents.speciality_code: Оптические и оптико-электронные приборы и комплексы
opponents.responsible_type: Оппонент
protection_organization.short_name: ФГУП "ВНИИОФИ"
protection_organization.name: Федеральное государственное унитарное предприятие "Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений"
protection_organization.ogrn: 1027739034036
protection_organization.organization_type: Организация
protection_organization.okogu: Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
protection_organization.okopf: Федеральные государственные унитарные предприятия
author_organization.short_name: ФГБУ "ВНИИМС"
author_organization.name: ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ "ВСЕРОССИЙСКИЙ НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ СЛУЖБЫ"
author_organization.ogrn: 1217700550594
author_organization.supervisor_name: СЕРГЕЙ
author_organization.supervisor_surname: ДЕНИСЕНКО
author_organization.supervisor_patronymic: АЛЕКСАНДРОВИЧ
author_organization.organization_type: Организация
author_organization.okogu: Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии
author_organization.okopf: Федеральные государственные бюджетные учреждения