name: Развитие методов просвечивающей электронной микроскопии для исследования  пространственного распределения структурных особенностей наноматериалов
keyword_list: ПРОСВЕЧИВАЮЩАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ; НАНОМАТЕРИАЛЫ; НИЗКОРАЗМЕРНЫЕ СТРУКТУРЫ; СТРУКТУРНЫЕ ФЛУКТУАЦИИ
abstract: Разработка новых материалов в существенной мере сопряжена с исследованиями их структуры, причём в практике такого рода исследований нестандартные задачи возникают, главным образом, при получении информации о наноразмерных структурных вариациях. Одним из основных методов исследования структуры на нано- и субнаномасштабе является просвечивающая электронная микроскопия, благодаря своей способности во многих случаях напрямую визуализировать атомную структуру вещества. Однако ряд диагностических задач не может быть решён непосредственным анализом электронно-микроскопических изображений в силу специфики исследуемых структурных особенностей, к числу которых, в частности, относятся динамические структурные флуктуации, включения малого размера, не идентифицируемые на изображениях из-за низкого соотношения сигнал/шум, а также значительные по латеральному масштабу структурные особенности, что существенно затрудняет их анализ по изображениям кристаллической решётки. Цель работы - расширение возможностей просвечивающей электронной микроскопии для структурных исследований наноматериалов. Разработан ряд оригинальных методик получения информации о геометрических характеристиках различных структурных особенностей, эффективность которых продемонстрирована получением новой информации о структуре следующих объектов исследования: двумерных кристаллов, графена и его модификаций, субнанокомпозитов на основе цианат-эфирных и бисфталонитрильных полимерных систем, метаморфных буферных слоёв InGaAs и InAlAs, выращенных методом молекулярно пучковой эпитаксии. Научная новизна работы состоит в следующем:  разработан метод численного анализа картин электронной дифракции от графена на основе модели обратной решётки волнистого двумерного кристалла, который позволяет определять спектр волнистости свободного графена; исследована волнистость свободного графена, включая влияние примесных групп на его поверхности; разработан способ определения степени диспергированности нанокластеров в полимерных матрицах на основе анализа статистических данных измерений локального состава методом рентгеноспектрального микроанализа; изучено влияние степени диспергированности нанокластеров на механические и физико-химические свойства исследованных полимерных нанокомпозитов; разработан высоколокальный метод измерения пространственной вариации деформаций в многослойных полупроводниковых кристаллических наногетероструктурах, основанный на электронной дифракции и позволяющий проводить измерения структур значительного латерального масштаба.
chairman_dissertation_council.surname: Бордовский Г.А.
chairman_dissertation_council.position: Президент университета
chairman_dissertation_council.degree: Доктор физико-математических наук
organization_supervisor.surname: Лактионов А.А.
organization_supervisor.position: начальник управления
organization_supervisor.degree: Кандидат педагогических наук
rubrics.code: 29.19.22
rubrics.name: Физика наноструктур. Низкоразмерные структуры. Мезоскопические структуры
rubrics.code: 29.19.19
rubrics.name: Методы исследования кристаллической структуры и динамики решетки
rubrics.code: 29.19.04
rubrics.name: Структура твердых тел
oecds.code: 01.03.UK
oecds.name: PHYSICS, CONDENSED MATTER
speciality_codes.name: Физика конденсированного состояния
speciality_codes.code: 01.04.07
opponents.fio: Латышев А.В.
opponents.scientific_degree: Доктор физико-математических наук
opponents.speciality_code: Физика полупроводников
opponents.responsible_type: Оппонент
opponents.fio: Голубок А.О.
opponents.scientific_degree: Доктор физико-математических наук
opponents.speciality_code: Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро- и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах
opponents.responsible_type: Оппонент
protection_organization.short_name: РГПУ им. А.И. Герцена, Герценовский университет
protection_organization.name: Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена"
protection_organization.ogrn: 1027809233429
protection_organization.organization_type: Организация
protection_organization.okogu: Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
protection_organization.okopf: Федеральные государственные бюджетные учреждения
author_organization.short_name: ФТИ им. А.Ф. Иоффе
author_organization.name: Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
author_organization.ogrn: 1037804006998
author_organization.supervisor_name: СЕРГЕЙ
author_organization.supervisor_surname: ИВАНОВ
author_organization.supervisor_patronymic: ВИКТОРОВИЧ
author_organization.organization_type: Организация
author_organization.okogu: Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
author_organization.okopf: Федеральные государственные бюджетные учреждения