name: Рассеяние протонов кэвных энергий как инструмент анализа тонких слоев на поверхности материалов ТЯР
keyword_list: взаимодействие плазмы с поверхностью, анализ поверхности, ионное рассеяние
abstract: "Взаимодействие плазмы с поверхностью обращенных к ней элементов в современных термоядерных установках с магнитным удержанием является однимиз основных факторов, определяющих работоспособность установки, посколькуплазменное воздействие на обращенные к ней материалы приводит к модификации их физических свойств и эрозии, при этом продукты эрозии, попадаяв плазму, также меняют ее параметры. Соответственно, одной из важнейшихзадач для осуществления управляемых термоядерных реакций в современныхустановках, таких как строящийся реактор ИТЭР, является диагностика процессов взаимодействия плазмы с поверхностью и контроль изменения состоянияповерхности. Поскольку взаимодействие плазмы с поверхностью представляетиз себя совокупность множества процессов энергетического, массового и зарядового обмена, то исследование всей этой совокупности в целом обычно достаточнозатруднительно. Для упрощения задачи используются экспериментальные установки — плазменные симуляторы, на которых при помощи низкотемпературнойплазмы или ионных пучков моделируются и исследуются отдельно взятыеаспекты взаимодействия пристеночной плазмы термоядерных реакторов с обращенными к ней поверхностями. При этом основным недостатком являетсято, что состояние поверхности обычно исследуется ex situ, то есть уже послеплазменного воздействия, что не позволяет отслеживать динамику модификацииповерхности. Данная работа посвящена применению спектроскопии рассеянияионов водорода кэвных энергий для in situ анализа тонких слоев, образующихся в процессе перепыления и эрозии материалов термоядерных установокс магнитным удержанием плазмы"
chairman_dissertation_council.surname: Евтихиев Н. Н.
chairman_dissertation_council.position: Профессор
chairman_dissertation_council.degree: Доктор физико-математических наук
organization_supervisor.surname: Нагорнов О. В.
organization_supervisor.position: Первый проректор
organization_supervisor.degree: Доктор физико-математических наук
rubrics.code: 29.19.16
rubrics.name: Физика тонких пленок. Поверхности и границы раздела
rubrics.code: 29.27.49
rubrics.name: Диагностика плазмы
oecds.code: 01.03.UF
oecds.name: PHYSICS, FLUIDS & PLASMAS
oecds.code: 02.05.QF
oecds.name: MATERIALS SCIENCE, CHARACTERIZATION & TESTING
oecds.code: 01.03.UK
oecds.name: PHYSICS, CONDENSED MATTER
speciality_codes.name: Физика плазмы
speciality_codes.code: 01.04.08
supervisors.fio: Курнаев В. А.
supervisors.scientific_degree: Доктор физико-математических наук
supervisors.speciality_code: Физика плазмы
supervisors.responsible_type: Научный руководитель
opponents.fio: Афанасьев В. П.
opponents.scientific_degree: Доктор физико-математических наук
opponents.speciality_code: Физическая электроника
opponents.responsible_type: Оппонент
opponents.fio: Борисов А. М.
opponents.scientific_degree: Доктор физико-математических наук
opponents.speciality_code: Приборы и методы экспериментальной физики
opponents.responsible_type: Оппонент
protection_organization.short_name: НИЯУ МИФИ
protection_organization.name: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"
protection_organization.ogrn: 1037739366477
protection_organization.organization_type: Организация
protection_organization.okogu: Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
protection_organization.okopf: Федеральные государственные автономные учреждения
author_organization.short_name: НИЯУ МИФИ
author_organization.name: Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования "Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"
author_organization.ogrn: 1037739366477
author_organization.organization_type: Организация
author_organization.okogu: Министерство науки и высшего образования Российской Федерации
author_organization.okopf: Федеральные государственные автономные учреждения